透過電子顕微鏡(TEM)
JEM-2100F標準コース 受付中
| 目的 | 透過電子顕微鏡の基礎を学び、低倍率から高倍率までの撮影技術の習得を目的とします |
|---|---|
| 開催日時 | 2025年7月16日（水）9：30～17：00 2025年7月17日（木）9：30～17：00 2025年7月18日（金）9：30～17：00 |
| 期間 | 3日間 |
| 対象 | JEM-2010, JEM-2100, JEM-2100F JEM-2100Plusをご使用の方 |
| 定員 | 3名 |
| 受講料 | 132,000円 (税抜額 120,000円) |
| 前提コース | 特にありません |
| 使用装置 | JEM-2100F |
| 主な内容 | 1日目 ・TEM基本操作 ・明視野像観察法 ・高分解能像観察法 2日目 ・制限視野 / 微小領域電子回折法 3日目 ・STEM像観察法 ・EDS分析法 ※STEM・EDSが必要無い方は1日目・2日目（￥88,000 (税込)）のみの受講も可能です |
| 連絡事項等 | ※講習会へのご参加は事前のお申し込みが必要です。 ＜注意事項＞ ●お申込みを取り消される場合は遅くとも、コース開始1週間前までにご連絡下さい。 それ以降の受講取消しにつきましては、キャンセル料を一部ご負担戴く場合もございますのでご了承下さい。 ●各コースとも、定員になり次第締め切らせて頂きますが、定員以上で受講できない場合には次の回に優先的に登録させていただき、その旨ご連絡いたします。 なお、参加者が定員に満たないコースについては、キャンセルになる場合がありますので、予めご了承下さい。その旨、1週間前にご通知申し上げます。 ●講習終了時間は受講人数、講習状況により前後いたします。 ●遅刻または早退される場合は、必ず事前にご連絡下さい。 ●講習内容を録音、録画することはご遠慮願います。 ＜受講料につきまして＞ 各コース終了後1～2週間後に弊社より請求書をお送り致します。弊社指定銀行口座へお振込みをお願い致します。 ＜お電話でのお問い合せ＞ 042-544-8565 |