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講習

透過電子顕微鏡(TEM)

JEM-ARM200F STEM基本コース 受付中 

目的 球面収差補正STEMを使った像撮影技術の習得を目的とします
開催日時 2025年8月26日(火)9:30~17:00
期間 1日間
対象 これからJEM-ARM200Fをお使い予定の方
定員 2名
受講料 55,000円 (税抜額 50,000円)
前提コース 特にありません
使用装置 JEM-ARM200F(NEOARM)
主な内容 ・STEM調整法(ロンチグラムの調整)
・原子分解能像撮影
・球面収差補正装置の調整法(CEOSまたはCOSMO※1)

これからARMを使用する方向けに基礎的な補正装置の調整方法を実施します※2。

※1受講者様によって変わります。詳しくはご相談ください。
※2TEM操作は含まれておりませんので、ご希望の場合は「200kV透過電子顕微鏡入門コース」または「JEM-2100F標準コース」を受講ください。
連絡事項等 ※講習会へのご参加は事前のお申し込みが必要です。
<注意事項>
●お申込みを取り消される場合は遅くとも、コース開始1週間前までにご連絡下さい。
それ以降の受講取消しにつきましては、キャンセル料を一部ご負担戴く場合もございますのでご了承下さい。
●各コースとも、定員になり次第締め切らせて頂きますが、定員以上で受講できない場合には次の回に優先的に登録させていただき、その旨ご連絡いたします。
なお、参加者が定員に満たないコースについては、キャンセルになる場合がありますので、予めご了承下さい。その旨、1週間前にご通知申し上げます。
●講習終了時間は受講人数、講習状況により前後いたします。
●遅刻または早退される場合は、必ず事前にご連絡下さい。
●講習内容をテープその他録音機へ録音することはご遠慮願います。
<受講料につきまして>
各コース終了後1~2週間後に弊社より請求書をお送り致します。弊社指定銀行口座へお振込みをお願い致します。
<お電話でのお問い合せ>
042-544-8565

会場のご案内

日本電子 6号館

〒196-0022 東京都昭島市中神町1156 > 地図を開く
JR 青梅(おうめ)線 中神(なかがみ)駅 北口より徒歩約10分
立川駅 北口よりタクシーで約15分