透過電子顕微鏡(TEM)
JEM-F200標準コース 受付開始前
| 目的 | 基本操作を修得することを目的とします |
|---|---|
| 開催日時 | 2026年7月08日（水）9：30～17：00 2026年7月09日（木）9：30～17：00 2026年7月10日（金）9：30～17：00 |
| 期間 | 3日間 |
| 対象 | これからJEM-F200をご使用の方、JEM-F200をご使用の方 |
| 定員 | 2名 |
| 受講料 | 132,000円 (税抜額 120,000円) |
| 前提コース | 特にありません |
| 使用装置 | JEM-F200 |
| 主な内容 | 1日目 ・TEM基本操作 ・明視野像観察法 ・高分解能像観察法 2日目 ・制限視野 / 微小領域電子回折法 3日目 ・STEM像観察法 ・EDS分析法 ※1日目・2日目のみの受講も可能です (¥44,000 (税込)/日 ) |